更新時間:2024-10-18
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增駿XU-100新型膜厚儀/膜厚測試儀介紹:
XU-100專精特新型膜厚儀_涂鍍層測厚儀_膜厚測試儀_光譜測厚儀
全新下照式設(shè)計、性價比高、適用性強(qiáng),輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結(jié)果。
XU-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀,全新下照式設(shè)計、性價比高、適用性強(qiáng),輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結(jié)果。
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計,搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。
檢測各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005um,最近測距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi),凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型
XU-100廣泛應(yīng)用于電鍍層分析、緊固件行業(yè)、五金行業(yè)、汽車零部件、配飾厚度分析、電子元器件等多種行業(yè).
產(chǎn)品六大優(yōu)勢:
高品質(zhì)·高標(biāo)準(zhǔn)
下照式設(shè)計
可以快速方便地定位對焦樣品。
高精密微型移動滑軌
快速精準(zhǔn)定位樣品。
微焦X射線裝置
最近測距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)
可進(jìn)行各類電鍍層膜厚檢測。
Pro-SD處理器+PC/
DPP+FAST SDD
(選配)
即使測試微小樣品,
幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
變焦裝置算法
可對各種異形凹槽進(jìn)行檢測,
凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm。
先進(jìn)的EFP算法
多層多元素,包括有同種元素在不同涂鍍層
的檢測,都可以快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析
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